德國(guó)Krautkramer USM36探傷儀是開發(fā)的產(chǎn)品。它將 21世 紀(jì)操作平臺(tái)與GE行之有效的德國(guó)Krautkramer USM36便攜式探傷儀可靠而耐用的硬件結(jié)合在一起。它包含了一系列創(chuàng)新功能、可確保的NDT檢測(cè)人員采用此新儀器作為日常主力探傷儀。

液晶尺寸/有效范圍

7"/152.4 × 91.44 mm(寬 × 高)

分辨率

800 × 480像素(寬 × 高)

測(cè)量范圍

4...14108mm(555")，縱波

顯示屏

顯示移位(延時(shí))

-15...3500 μs

探頭延時(shí)

0...1000 μs

聲速范圍

250...16000 m/s

脈沖重復(fù)頻率

自動(dòng)優(yōu)化15...2000Hz，三種自動(dòng)設(shè)置模式：低、中、高檔和手動(dòng)模式

接頭

探頭接頭

2xLEMO-1或2xBNC

USB接口

USB B型接頭

脈沖發(fā)生器

脈沖發(fā)生器模式

尖脈沖發(fā)生器(可選)：方波脈沖發(fā)生器

脈沖發(fā)生器電壓(SQ 模式)

120...300 V，以10V 為步進(jìn)、容差為10%

脈沖發(fā)生器下降/上升時(shí)間

zui大10ns

脈沖發(fā)生器寬度(SQ 模式)

30...500 ns，以10ns 為步進(jìn)

脈沖發(fā)生器幅度(尖脈沖模式)

低檔：120V，高檔：300V

脈沖發(fā)生器能量(尖脈沖模式)

低檔：30 nS，高檔：100 nS

阻尼

50Ω，1000Ω

脈沖發(fā)生器

數(shù)字增益

動(dòng)態(tài)范圍110dB，以0.2dB 為步進(jìn)可調(diào)

模擬帶寬

0.5...20MHz

濾波器

寬帶：1-5MHz/2, 2.25MHz/4, 5MHz/10MHz/13, 15MHz

整流

整流正半波、負(fù)半波、全波、射頻信號(hào)

柵極

獨(dú)立柵極

柵極A和B(由柵極 A 觸發(fā))，柵極C(選項(xiàng)、由柵極A或B觸發(fā))

測(cè)量模式

峰值、側(cè)翼、J側(cè)翼、*峰值

存儲(chǔ)器

卡槽

適用于所有標(biāo)準(zhǔn)SD卡的SD卡槽

容量

8GB，SD卡

數(shù)據(jù)集

UGO數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)、以ASCII形式表示

報(bào)告

JPG或BMP格式

概述

電池

鋰離子電池、工作時(shí)間：充滿電時(shí)13個(gè)小時(shí)
充電方法(標(biāo)準(zhǔn))：內(nèi)置電源適配器，充電方法(可選)：外部充電器
充電電量：與充電電量成比例的指示符

電源適配器

通用供電單元100...240VAC，50/60Hz

主機(jī)尺寸(寬 × 高 × 深)

255 × 177 × 100mm (10” × 7.0” × 3.9”)

重量

2.2kg(含電池)

語(yǔ)言

保加利亞語(yǔ)、漢語(yǔ)、捷克語(yǔ)、荷蘭語(yǔ)、英語(yǔ)、芬蘭語(yǔ)、法語(yǔ)、德語(yǔ)、匈牙利語(yǔ)、意大利語(yǔ)、日語(yǔ)、挪威語(yǔ)、波蘭語(yǔ)、葡萄牙語(yǔ)、羅馬尼亞語(yǔ)、俄語(yǔ)、西班牙語(yǔ)、瑞典語(yǔ)

外殼

符合IEC 60529 標(biāo)準(zhǔn)的 IP66

工作溫度

-10...55°C

選件

AWS

AWS 校準(zhǔn)工具、符合 AWS D1.1 結(jié)構(gòu)焊接規(guī)范

DAC/JISDAC/CNDAC

DAC校準(zhǔn)工具，16點(diǎn)，符合EN1712，EN1713，EN1714，ASTM E164，ASME，ASMEIII，JIS Z3060及GB11345 等標(biāo)準(zhǔn)
TCG: 動(dòng)態(tài)范圍120dB，斜率110dB/μs

DGS

DGS校準(zhǔn)工具，符合：EN 1712，EN 1713，EN 1714 及 ASTM E164 等標(biāo)準(zhǔn)

數(shù)據(jù)記錄器

網(wǎng)格文件創(chuàng)建

3G

柵極C

SWP

用于脈沖發(fā)生器的參數(shù)優(yōu)化，電壓設(shè)置 120 … 300V，以10V 為步進(jìn)，脈沖寬度設(shè)置 30...500ns，以10ns 為步進(jìn)

幻影PRF

幻影 PRF 用于識(shí)別錯(cuò)誤回聲、這類回聲由低衰減材料中的多次反射造成

BEA

布萊克沃爾回聲衰減

規(guī)格符合 EN 12668 標(biāo)準(zhǔn)

符合 EN 12668 標(biāo)準(zhǔn)的儀器規(guī)格請(qǐng)參見標(biāo)準(zhǔn)包裝中包含的產(chǎn)品 CD。